Фелдман Л., Майер Д.
Основы анализа поверхности и тонких пленок
М., Мир, 1989 г. 344 с. Тираж 4050 экз. Состояние отличное.
Цена:
Город: Киев
Узнать о поступлении
На время военного положения сайт не работает.
Введите свой e-mail и город проживания, затем нажмите кнопку, чтобы сразу получить сообщение, когда
книга будет в наличии.
Неверно заполнено поле почтовый адрес!
Не все поля формы были заполнены
