Букинист
  
   
 
Фото: Вавилов В.С., Кив А.Е., Ниязова О.Р. Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках

Вавилов В.С., Кив А.Е., Ниязова О.Р.
Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках


Серия "Физика полупроводников и полупроводниковых приборов". М., Наука, 1981 г. 368 с. Тираж 4500 экз. Состояние отличное.

Цена:
Город: Киев

Заказать
На время военного положения сайт не работает.


Написать владельцу
 
  Developed by A.Belitsky