|
Ланно М., Бургуэн Ж.
Точечные дефекты в полупроводниках. Теория. Экспериментальные данные
М., Мир, 1984-1985 г.г. 264+304 с. Тираж 3400 экз. Состояние очень хорошее-отличное.
Цена:
Город: Киев
Заказать
На время военного положения сайт не работает.
Введите свой e-mail и город проживания, затем нажмите кнопку, чтобы заказать.
Неверно заполнено поле почтовый адрес!
Не все поля формы были заполнены
Написать владельцу
Укажите в следующей форме свой e-mail и сообщение владельцу книги.
Неверно заполнено поле почтовый адрес!
|
